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容微精密電子

OTA測(cè)試方案
OTA測(cè)試方案

1.滿(mǎn)足基帶芯片疊加天線(xiàn)同時(shí)測(cè)試。

2.滿(mǎn)足系統(tǒng)級(jí)SoC+MEMORY+天線(xiàn)疊加測(cè)試。

3.滿(mǎn)足5G通訊或微波雷達(dá)的測(cè)試要求。

4.測(cè)試頻率可達(dá)到70GHz。

  • 性能